X-射线衍射仪

仪器介绍

概述：D8 Advance X-射线粉末衍射仪能够提供粉末，块状，条带样品的测试，多晶样品的常规物相分析和半定量分析，晶包参数的测定，修正，未知多晶样品的X射线衍射指标化，晶粒尺寸和结晶度测定。

主要技术指标：

1. Cu靶X光管电压≤40KV、电流≤40mA；

2. 额定输出功率3kW；

3. 电流电压稳定度优于±0.005%；

4. 测角仪工作方式：θ-θ方式

  5. 高精度步径式马达控制双圆测角仪，测角仪半径≥200mm，2θ转动范围-10°～168°，可读最小步长0.0001°，角度重现性0.0001°；林格斯一维探测器，动态范围>1×109cps，背景<0.1cps。

主要用途：

1. 物相定性分析（粉体、块体与薄膜等）

2. 物相定量分析

3. 精确测定点阵常数

4. 晶粒大小及晶格畸变测定

5. 颗粒大小及其分布测试

6. 薄膜厚度（<100nm）及粗糙度测试

7. 物质相变测定

样品要求

1. 粉末样品要求：干燥、在空气中稳定、粒度均匀小于20μm。

2. 块状样品要求：测试面清洁平整、可装入直径为20mm的中空样品架，垂直于测试面的厚度不超过5mm。

3. 特殊样品：极少量的微粉、非晶条带等。微粉样品需要颗粒均匀细小，且物质性质稳定；条带需要平整光滑且不能太厚。