X射线小角散射仪

仪器介绍

当一束X射线照射到样品上时，如果样品内部存在电子密度不均匀区域，则会产生小角X射线散射（Small Angle X-ray scattering, SAXS）现象。由于探测角度的限制，一般SAXS的检测范围为1~100nm，大于100nm的体系需要利用超小角X射线散射。通过对小角X射线散射图或散射曲线的分析即可计算出散射体的形状、 大小、分布及含量等信息。散射体可以是孔洞、粒子、缺陷、材料中的晶粒、非晶结构等，适用的样品可以是气体、液体、 固体。多数材料内部都存在此类电子密度不均匀区域，因此SAXS可以适用范围广，具有一定的普适性。同时，X射线具有穿透性，能够在不破坏样品的情况下检测内部结构，因此，SAXS也属于无损分析方法。也因为X射线的穿透性，SAXS信号是样品内众多散射体信息的统计结果，所以SAXS还具有一定的统计性。相对于其它纳米尺度分析表征手段，如SEM、TEM、AFM而言，SAXS具有测试快速、无损分析、制样简单、适用范围广、结果具有统计性等优点。基于这些优点，SAXS方法已成为纳米尺度微结构表征的重要手段。

主要配置：

1．三针孔准直系统；

2．高功率微聚焦转靶；

3．二维IP探测器。